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风冷式冷热冲击试验箱

  • 产品型号:
  • 产品时间:2018-12-11
  • 简要描述:风冷式冷热冲击试验箱广泛应用于航空航天、电子电工、仪器仪表、汽车、通讯、集成电路、半导体等领域,可发现产品潜在缺陷,做应力筛选试验,提高产品的可靠性和进行产品质量控制。
  • 产品简介

一、风冷式冷热冲击试验箱简介:

  冷热冲击试验箱根据待测试样品的特殊性,本系列冲击试验箱采用立式箱体、卧式箱体、冷热两箱及三箱结构、采用提篮转换试品或静止不动所在试验区域的方法,达到冷热冲击试验的目的这种结构最大限度的减小了冷热冲击时的热负荷,缩短了温度恢复时间。适用于做汽车、军工、航空航天、电子电工、高新材料等温度冲击的可靠性试验。

 

二、风冷式冷热冲击试验箱技术参数

型号

BS-40I

BS-80I

BS-100I

BS-150I

BS-252I

BS-450I

内箱尺寸W*H*D(mm)

400*350*300

500*400*400

500*450*450

600*500*500

700*600*600

800*750*750

外箱尺寸W*H*D(mm)

1100*1930*1450

1200*2000*1550

1500*1950*1600

1300*1230*1670

1750*2120*1970

1900*2270*2210

重量(KG)

700

900

1100

1200

1400

1900

温度范围

 

(A-45℃  B-55℃  C-65℃    高温区:+60℃-150℃   低温区:-10℃--65℃  )

升温时间(蓄热区)

RT-200℃约35min

降温时间(蓄冷区)

RT—70℃约55min

温度回复/切换时间

≤5min   /  ≤5sec以内

温度精度/分布精度

±0.5℃     ±2.5% ℃

冷却方式

风、水冷式/双断压缩机

电源

 AC380V+±10%V 50HZ/60HZ

 

三、冷热冲击试验机满足标准:

GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件
GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件
GB/T2423.1-2008/IEC 60068-2-1:2007电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温
GB/T2423.2-2008 /IEC 60068-2-2:2007电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009 环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化
GJB 150.5A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验

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