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两箱冷热冲击试验箱制造商

  • 简要描述:两箱冷热冲击试验箱制造商广泛应用于航空航天、电子电工、仪器仪表、汽车、通讯、集成电路、半导体等领域,可发现产品潜在缺陷,做应力筛选试验,提高产品的可靠性和进行产品质量控制。
  • 品牌:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 访问次数:883
  • 更新时间:2023-11-07
  • 产品简介

一、冷热冲击试验箱简介:

  冷热冲击试验箱适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、车辆、金属、电子产品、各种电子元气件、电线、电缆等在高低温快速交变环境下,确定组件、设备和其他产品经受环境温度迅速变化的能力

 

二、冷热冲击试验箱技术参数:

型号

BS-40H

BS-80H

BS-150H

BS-200H

BS-252H

内箱尺寸W*H*D(mm)

400*350*300

500*400*400

600*500*500

600*600*550

700*600*600

外箱尺寸W*H*D(mm)

1100*1930*1450

1200*2000*1550

1300*1230*1670

1300*2500*1700

1400*2630*1750

重量(KG)

500

700

900

1100

1300

温度范围

 

(A-45℃  B-55℃  C-65℃    高温区:+60℃-150℃   低温区:-10℃--65℃  )

升温时间(蓄热区)

RT-200℃约35min

降温时间(蓄冷区)

RT—70℃约55min

温度回复/切换时间

≤5min   /  ≤10sec以内

温度精度/分布精度

±0.5℃     ±2.5% ℃

冷却方式

风、水冷式/双断压缩机

电源

 AC380V+±10%V 50HZ/60HZ

 

三、两箱冷热冲击试验箱制造商执行标准:

1. GJB150.5A-2009温度冲击试验

2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009温度冲击试验

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971电工电子产品环境试验

第2部分:试验方法温度变化试验导则

4. GJB360B-2009温度冲击试验

5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验A:低温

6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2:2007 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温

7.GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件

8.GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件

 

四、两箱冷热冲击试验箱制造商显示界面:

.采用人机交互方式,采用触摸式输入、控制

.温度设定(SV)实际(PV)值直接显示

.可显示执行程序号码,段次,剩余时间及循环次数, 运转时间显示

.执行程序动作状态显示

. 语言转换可以切换繁中/英文

. 7.5寸液晶彩色显示屏

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