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两箱冷热冲击试验箱

  • 简要描述:两箱冷热冲击试验箱广泛应用于航空航天、电子电工、仪器仪表、汽车、通讯、集成电路、半导体等领域,可发现产品潜在缺陷,做应力筛选试验,提高产品的可靠性和进行产品质量控制。
  • 品牌:其他品牌
  • 厂商性质:生产厂家
  • 访问次数:951
  • 更新时间:2023-11-06
  • 产品简介
品牌其他品牌价格区间10万-20万
产地类别国产

一、两箱冷热冲击试验箱简介:

  冷热冲击试验箱根据待测试样品的特殊性,分为两箱式动态冲击和三箱式静态冲击,本产品可做冷热冲击,也可以做单独高温或低温使用。广泛应用于航空航天、电子电工、仪器仪表、汽车、通讯、集成电路、半导体等领域,可发现产品潜在缺陷,做应力筛选试验,提高产品的可靠性和进行产品质量控制。

 

二、两箱冷热冲击试验箱技术参数

型号

BS-40H

BS-80H

BS-150H

BS-200H

BS-252H

内箱尺寸W*H*D(mm)

400*350*300

500*400*400

600*500*500

600*600*550

700*600*600

外箱尺寸W*H*D(mm)

1100*1930*1450

1200*2000*1550

1300*1230*1670

1300*2500*1700

1400*2630*1750

重量(KG)

500

700

900

1100

1300

温度范围

 

(A-45℃  B-55℃  C-65℃    高温区:+60℃-150℃   低温区:-10℃--65℃  )

升温时间(蓄热区)

RT-200℃约35min

降温时间(蓄冷区)

RT—70℃约55min

温度回复/切换时间

≤5min   /  ≤10sec以内

温度精度/分布精度

±0.5℃     ±2.5% ℃

冷却方式

风、水冷式/双断压缩机

电源

 AC380V+±10%V 50HZ/60HZ

 

 

三、冷热冲击试验箱特点:

 提篮式分为高温区、低温区两部分,测试产品至于提篮中,冲击时提篮将测试产品移进高温区或低温区进行冲击,测试产品为动态式。

  • 高温冲击或低温冲击时,zui大时间可达999H,zui大循环周期可达9999次。
  • 冷却采用二元冷冻系统,降温效果快速,冷却方式为水冷式。
  • 可与电脑连接USB/RS232接口,可将温度湿度曲线数据*记录
  • 程序循环:全部循环。zui多999回,部分循环、zui多99回

 

 

四、冷热冲击试验箱执行标准:

1. GJB150.5A-2009温度冲击试验

2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009温度冲击试验

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971温度变化试验导则

3. GJB360B-2009温度冲击试验

4. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007 低温试验方法

5.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2:2007 高温试验方法

6.GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件

7.GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件

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